透射电子显微镜的原理是什么？让我们看看这个！

透射电子显微镜原理是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件）上显示出来。由于透射电镜具有原位观察、高分辨显像等功能，适宜观察光学显微镜观察不到的细微结构。比如：细胞、组织分析、晶体结构等。

透射电镜可以观察颗粒的大小、形貌、大小、分布和大小分布范围，并用统计平均法计算颗粒大小。TEM通常是观察产物颗粒的粒度而不是晶粒大小，高分辨电子显微镜（HRTEM）可以直接观察微晶结构，特别是为分析界面原子结构提供了有效手段。它可以观察小颗粒的固体外观。晶体的生长方向可以根据晶体形态、相应的衍射图案和高分辨率图像进行研究。

透射电子显微镜成像原理

透射电子显微镜的成像原理可分为三种情况：

1.吸收图像：当电子发射到高质量和高密度的样品中时，主要的相形成效应是散射。当样品的质量厚度较大时，电子的散射角较大，通过的电子较少，图像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜就是基于这一原理。

2.衍射图像：电子束从样品弯曲后，样品不同位置衍射波的振幅分布对应于样品中晶体各部分的不同衍射能力。如果存在晶体缺陷，缺陷部分的衍射能力不同于整个区域的衍射能力，因此衍射波的振幅分布不均匀，反映了晶体缺陷的分布。

3.相位图像：当样品小于100Å时，电子可以通过样品，波的振幅变化可以忽略，图像来自相位变化。

透射电子显微镜的用途

透射电子显微镜在材料科学和生物学中有着广泛的应用。由于电子很容易被物体散射或吸收，穿透力很低，样品的密度和厚度会影响最终的成像质量。

用透射电子显微镜观察的样品必须处理得非常薄。常用的方法有：超薄切割法、冷冻超薄切割法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品，通常挂起经过预处理的铜格栅进行观察。

以上是小编收集整理的。我希望它能帮助你。

你可能关心内容:

透射电子显微镜原理图;

透射电子显微镜原理基础;

透射电子显微镜原理特点;

透射电子显微镜的原理;

电子透射显微镜工作原理;

声明：本媒体部分图片、文章来源于网络，版权归原作者所有，如有侵权，请联系QQ:330946442删除。